====== Technology characterization ======
===== Introduction =====
Primissima cosa da fare quandoo uno si mette a lavorare con un nuov PDK,
caratterizzare la propria technologia! Quindi iniziare da simulazioni sul singolo
transistor per determinare //Cox//, //εox//, //tox//,
gm/Id etc.
Reference: //Appendix B - CMOS Device Characterization// in //CMOS Analog Circuit Design//, Allen Holdberg
{{:vlsi:workbook:analog:techniques:gate_cap_testbench.png}
===== Gate capacitance =====
Primo plot in assoluto da produrre! Cg(Vg)! Da cui posso misurare Cox e quindi tox! Inoltre
vedo la transizione
//**weak inversion**// => //**moderate inversion**// => //**strong inversion**//
Basta simulare un MOS connesso a condensatore, con Vs = Vg = Vb = 0 e variare Vg sul gate
da -Vdd a +Vdd
{{:vlsi:workbook:analog:techniques:gate_cap_testbench.png?600}}
See also \\
//[[http://www.edaboard.com/thread156795.html]]// \\
//[[http://www.el.gunma-u.ac.jp/~kobaweb/news/pdf/e85-c_5_1182.pdf]]//
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~~NOTOC~~