====== Technology characterization ====== ===== Introduction ===== Primissima cosa da fare quandoo uno si mette a lavorare con un nuov PDK, caratterizzare la propria technologia! Quindi iniziare da simulazioni sul singolo transistor per determinare //Cox//, //εox//, //tox//, gm/Id etc. Reference: //Appendix B - CMOS Device Characterization// in //CMOS Analog Circuit Design//, Allen Holdberg {{:vlsi:workbook:analog:techniques:gate_cap_testbench.png} ===== Gate capacitance ===== Primo plot in assoluto da produrre! Cg(Vg)! Da cui posso misurare Cox e quindi tox! Inoltre vedo la transizione //**weak inversion**// => //**moderate inversion**// => //**strong inversion**// Basta simulare un MOS connesso a condensatore, con Vs = Vg = Vb = 0 e variare Vg sul gate da -Vdd a +Vdd {{:vlsi:workbook:analog:techniques:gate_cap_testbench.png?600}} See also \\ //[[http://www.edaboard.com/thread156795.html]]// \\ //[[http://www.el.gunma-u.ac.jp/~kobaweb/news/pdf/e85-c_5_1182.pdf]]// ====== ====== \\ ---- Last update: ~~NOTOC~~